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關鍵詞：應變測試，應變片、Strain Gauge

導讀：

        機械測試和測量中，我們需要了解一個物體對于力的作用所產生的形變。應變效應，即為材料由于受力所產生的變形，貼于其上的應變片的電阻值也會隨著發(fā)生變化。此文將介紹應變片的基本結構，分類及其原理。

應變片的基本結構

      上圖為電阻絲應變片的結構示意圖。電阻絲由直徑為0.01～0.05mm的金屬絲制成的，為了獲得最大相對應方向的應變力，將其繞成柵狀，稱為敏感柵，并黏貼于絕緣的基底上。銅線與電阻絲的兩端連接作為應變片引線，用來連接測量導線。敏感柵上面黏貼有保護作用的覆蓋層。柵長乘以珊寬即為應變片的使用面積。應變片的規(guī)格一般以使用面積和電阻值表示，如3mm×20mm，120Ω。

應變片的分類

    應變片可分為金屬式應變片和半導體式應變片兩大類。

金屬式應變片中，按照敏感柵的材料不同，分為絲式，箔式和金屬膜式。

1. 絲式應變片：金屬絲式應變片式用0.01-0.05mm的金屬絲做敏感柵，有回線式和短接式兩種。金屬絲應變片蠕變較大，金屬絲易脫落，但價格便宜。

2. 箔式應變片：金屬箔式應變片是利用照相制版或光刻技術，將厚約為0.003-0.01mm的金屬箔片制成敏感柵。箔式應變片于片基的接觸面積大，散熱好，蠕變較小，目前廣泛使用。

3. 薄膜應變片：金屬薄膜應變片式采用真空蒸發(fā)或真空沉積等方法，再薄的絕緣基底上形成厚度在0.1μm以下的金屬電阻薄膜的敏感柵。優(yōu)點式靈敏度大，允許電流密度大，工作范圍廣，可達-197 ~ 317℃。

半導體式應變片是將單晶硅錠切片、研磨、腐蝕壓焊引線，最后粘貼在鋅酚醛樹脂或聚酰亞胺的襯底上制成的。是一種利用半導體單晶硅的壓阻效應制成的一種敏感元件。半導體應變片與電阻應變片相比，具有靈敏系數(shù)高（約高 50～100倍）、機械滯后小、體積小、耗電少等優(yōu)點。它的缺點是電阻和靈敏系數(shù)的溫度系數(shù)大、非線性大和分散性大等。

應變片的原理

    當應變片受到外力而產生形變時（拉伸或壓縮），其電阻值R會隨之增加或降低，借由此特性可以用來測量應力ε，應力ε與應變片電阻值R的變化量?R的關系如下：

    應變系數(shù)GF（Gauge factor)是表示應變片靈敏度的系數(shù)。用于一般應變片的銅鎳合金和鎳鉻合金的應變系數(shù)GF大約為2。